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温度冲击试验箱

作者:东莞环瑞编辑部 文章来源:环瑞 点击数:2367 更新时间:2024-03-20 03:14:43

高低温度冲击试验箱小

温度冲击试验箱用途:

温度冲击试验箱不需要使用液态气体(LN2或LCO2)辅助降温,待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体生产线大量适用,可大量节省耗材测试费用,操作快捷、高信赖度,是本公司经多年研究开发的高性能试验机,为客户提供长期可靠的测试工具。


温度冲击试验箱执行与满足标准:

GB10592-89高低温箱技术条件;

《GB2423.1-89电工电子产品基本环境试验规程》:低温试验方法;

《GB2423.2-89电工电子产品基本环境试验规程》:高温试验方法;


温度冲击试验箱特点:

1) 试料槽完全静止,可由测试孔处加负载配线;

2) 蓄热方式可避免职业伤害(注:液态气体所产生发气,吸入肺部致使肺部氧气量减少,而产生倦怠,集中力降低);

3) 采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器,操作简单、学习容易;

4) 温度控制精度高,全部采用PID自动演算控制;

5) 可选择始动位置,高温或低温开始循环;

6) 具有预约起动功能;

7) 可设定循环次数及自动除霜;

8) 可选择二槽式或三槽冲击;

9) 有异常或故障显示及排除方法说明。

温度冲击试验箱技术参数:

型 号:RTS

48 80 100 150 252 360 480

控制系统 平衡调温控制系统(BTC),以P.I.D.方式控制SSR

温度范围 高度室:60℃~200℃

预热时间 约20分钟

低温室 A:-55℃~10℃

B:-70℃~10℃

C:-80℃~10℃

预热时间 A:20℃~-55℃约60分钟

B:20℃~-70℃约75分钟

C:20℃~-80℃约90分钟

试验室 A:-40℃~150℃

B:-55℃~150℃

C:-65℃~150℃

恢复时间 高温暴露30分钟

低温暴露30分钟

5分钟以内

温度波动度:±1.0℃

温度偏差 ≤±2.0℃

内箱尺寸(W×H×Dcm) 40×40×32 50×40×40 55×45×40 60×50×50 70×60×60 80×75×60 80×80×75

外箱尺寸(W×H×Dcm) 139×176×121 149×176×131 154×181×131 159×186×141 190×190×197 200×215×250 200×226×254

内箱材质 SUS304不锈钢板

外箱材质 SUS304不锈钢板或钢板静电喷涂表面处理

保温材质 高密度聚胺酯泡沫及玻璃纤维

冷冻系统 气冷式(可选择水冷式)

单段/复叠式,半密式压缩机,环保冷媒(R404a+R23)

控制器:TEMP880S 5.7英寸LCD彩色触摸屏,中/英文显示

保护装置:无熔丝开关、压缩机超压、过热、过电流保护、超温保护、风机超载保护、保险丝、干燥保护器、干热保护

标准配件:ф50mm测试孔1个、试样架2套、指示灯、电源线2米、移动工作轮4个、通讯界面

使用环境:5℃~35℃、≤85%RH

电源功率:AC380±10% 50HZ 三相四线+保护地线

注:

1.以上数据均在环境温度(QT)25℃,工作室无负载条件下测得;

2.可根据用户的具体要求定做非标型高低温、低温试验室。


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